Advances in X-Ray Analysis, Fachbücher von Marie Fay, William M. Mueller, Gavin R. Mallett
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Produktdetails
"Advances in X-Ray Analysis" ist ein Fachbuch, das sich mit den neuesten Entwicklungen und Technologien im Bereich der Röntgenanalyse beschäftigt. Es bietet eine umfassende Betrachtung der Fortschritte, die in den letzten Jahren in diesem wissenschaftlichen Bereich erzielt wurden. Die Autoren, Gavin R. Mallett und William M. Mueller, beleuchten die Herausforderungen, die sich aus der rasanten Entwicklung des wissenschaftlichen Wissens ergeben, und diskutieren die Notwendigkeit einer kontinuierlichen Weiterbildung innerhalb der wissenschaftlichen Gemeinschaft. Das Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die ein tieferes Verständnis für die komplexen Technologien und Methoden der Röntgenanalyse erlangen möchten. Es ist ein wertvolles Nachschlagewerk für alle, die sich mit Mathematik und Naturwissenschaften beschäftigen und die neuesten Trends und Techniken in der Röntgenanalyse verfolgen wollen.
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Marke:Springer