

Advances in X-Ray Analysis, Fachbücher von Ron Jenkins, Ting C. Huang, C. C. Goldsmith, John V. Gilfrich, I. Cev Noyan
"Advances in X-Ray Analysis" ist ein Fachbuch, das die Ergebnisse der 41. jährlichen Konferenz über Anwendungen der Röntgenan... Mehr erfahren
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Produktdetails
"Advances in X-Ray Analysis" ist ein Fachbuch, das die Ergebnisse der 41. jährlichen Konferenz über Anwendungen der Röntgenanalyse dokumentiert, die vom 2. bis 6. August 1993 in Denver, Colorado, stattfand. Diese Konferenz hat sich seit ihren Anfängen in den 1950er Jahren zu einem bedeutenden Ereignis im nationalen wissenschaftlichen Kalender entwickelt und zieht zunehmend internationale Teilnehmer an. Das Buch bietet einen umfassenden Überblick über aktuelle Themen in der Röntgenbeugung und -fluoreszenz und reflektiert die Entwicklungen in den Methoden und Techniken der Röntgenmaterialanalyse. Ein zentrales Thema der Konferenz war der Einfluss des Personal Computers auf die Röntgenanalyse, was die Transformation der Instrumentierung und Techniken in diesem Bereich verdeutlicht. Die Beiträge in diesem Buch stammen von führenden Experten und bieten wertvolle Einblicke in die Fortschritte und Herausforderungen der Röntgenanalyse.
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Marke:Springer


