Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design, Fachbücher von Joachim Haase, Manfred Dietrich

Das Buch "Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design" bietet eine umfassende Analyse der Herausforderungen, die durch Unsicherheiten in den Schlüsselparametern von Mikrochips entstehen. Insbesondere im Bereich der tiefen Submikron-Technologie ist es entscheidend, die Variabilität in den Fertigungsprozessen zu berücksichtigen, um eine fehlerfreie Funktionalität der Schaltungen zu gewährleisten. Der Autor präsentiert eine quantitative Methodik, die es ermöglicht, verschiedene Quellen von Variationen im Designprozess zu bewerten und geeignete Designvarianten zu entwickeln. Durch die Anwendung probabilistischer Ansätze wird ein Paradigmenwechsel von einem deterministischen zu einem probabilistischen Designprozess angestrebt, was für die Produktentwicklung von grosser Bedeutung ist. Das Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit der Optimierung von Mikroelektronikschaltungen befassen und die neuesten Methoden und Werkzeuge zur Evaluierung und Optimierung ihrer Designs kennenlernen möchten.