Single Event Upsets in Sub-65nm CMOS technologies, Fachbücher von Slawosz Uznanski

Das Buch "Single Event Upsets in Sub-65nm CMOS technologies" von Slawosz Uznanski bietet eine umfassende Analyse der Auswirkungen von Single Event Effects (SEE) auf die Zuverlässigkeit von integrierten Schaltungen, insbesondere in der Sub-65nm CMOS-Technologie. Angesichts der steigenden Dichte integrierter Schaltungen und der Herausforderungen durch die Stromversorgung ist dieses Werk von grosser Bedeutung für Fachleute, die sich mit der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in verschiedenen Umgebungen, sowohl terrestrisch als auch im Weltraum, befassen. Die Studie stellt ein vollständiges Simulationswerkzeug, TIARA, vor, das die Sensitivitätsvorhersage verschiedener digitaler Schaltungen in unterschiedlichen Strahlungsumgebungen ermöglicht. Durch die Validierung mit experimentellen Daten wird die Relevanz und Anwendbarkeit der entwickelten Modelle unterstrichen. Das Buch richtet sich an Ingenieure und Forscher, die sich mit der Entwicklung strahlungsharter digitaler Schaltungen beschäftigen und ein tieferes Verständnis der Strahlungsinduzierung von Störungen in modernen CMOS-Technologien erlangen möchten.