Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Fachbücher von Patrick Echlin

Das "Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis" bietet umfassende Informationen zur Probenvorbereitung für die Rasterelektronenmikroskopie (REM) und die Röntgenmikroanalyse. Diese Techniken ermöglichen die Erzeugung vergrösserter Bilder und chemischer Informationen von nahezu jedem Probenmaterial. Das Buch behandelt die Herausforderungen, die sich aus der Notwendigkeit ergeben, Proben in einem Hochvakuum und einer trockenen Umgebung zu analysieren, und erläutert die Bedeutung der elektrischen Leitfähigkeit der Proben für die Bildgebung. Es wird auf die unterschiedlichen Signale eingegangen, die während der Interaktion des Elektronenstrahls mit der Probe entstehen, und deren Einfluss auf die Probenvorbereitung. Die detaillierte Analyse der Wechselwirkungen zwischen dem Elektronenstrahl und den Probenmaterialien ist entscheidend für die korrekte Anwendung dieser Technologien in der Forschung und Industrie.