Applied Scanning Probe Methods I, Fachbücher von Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka

Das Buch "Applied Scanning Probe Methods I" bietet eine umfassende Untersuchung der physikalischen und technischen Grundlagen, die den jüngsten Fortschritten in den angewandten Nahfeld-Scanning-Proben-Techniken zugrunde liegen. Es stellt einen zeitgemässen Überblick über die Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (SPM) dar, insbesondere in der Industrie, wo diese Techniken zur topografischen und dynamischen Oberflächenuntersuchung von Materialien wie Dünnfilm-Halbleitern, Polymeren, Papier, Keramiken sowie magnetischen und biologischen Materialien eingesetzt werden. Nach der theoretischen Einführung in die statischen und dynamischen Kraftmikroskopien, einschliesslich der Sensortechnologie und der Charakterisierung von Spitzen, werden spezifische Anwendungen wie Makro- und Nanotribologie, Polymeroberflächen und Rauheitsuntersuchungen detailliert behandelt. Der abschliessende Teil des Buches widmet sich der industriellen Forschung und beleuchtet spezielle Anwendungen von Scanning Force Nanoproben, wie atomare Manipulation und Oberflächenmodifikation sowie Einzel-Elektronen-Geräte, die auf SPM basieren. Wissenschaftler und Ingenieure, die SPM-Techniken nutzen oder planen, werden von der internationalen Perspektive, die in diesem Buch zusammengetragen wurde, profitieren.