Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface, Fachbücher von José A. Romagnoli, Rajib Mukherjee

Das Buch "Modeling and Multiresolution Characterization of Micro/nano Surface" bietet eine umfassende Analyse der quantitativen Charakterisierung von Oberflächen durch verschiedene statistische Merkmale. Es beleuchtet die Anwendung von Wavelet-Transformationen zur mehrstufigen Analyse von mikroskopischen Oberflächenbildern. Durch die Entwicklung eines mehrskaligen molekularen Modells wird untersucht, wie physikalische und chemische Mechanismen in Fertigungsprozessen optimiert werden können. Das Werk behandelt die multiresolutionale Charakterisierung von Oberflächenmerkmalen und die Optimierung von Systemvariablen, um die gewünschten Oberflächeneigenschaften zu erreichen. Ein besonderes Augenmerk liegt auf der Reduzierung der Effizienz von Produkten durch die Linienrandrauhigkeit (LER) in der Mikrofabrikation und der Anwendung von Wellen-basierten Segmentierungsmethoden zur Charakterisierung von Kantenbereichen. Die Identifizierung von Phasentrennung durch spinodale Zersetzung wird ebenfalls thematisiert, was zur Bildung von LER auf Polymeroberflächen führt.