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Process Window Index, Fachbücher von Lambert M. Surhone, Miriam T. Timpledon, Susan F. Marseken

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Produktdetails

Das Buch "Process Window Index" von Betascript Publishing bietet eine umfassende Analyse des Process Window Index (PWI), einem statistischen Mass zur Bewertung der Robustheit von Fertigungsprozessen, insbesondere in der Elektronikindustrie. Der PWI ist entscheidend für die Kalibrierung von Heiz- und Kühlprozessen, die beim Löten in Reflow-Öfen verwendet werden. Durch die Definition von Spezifikationsgrenzen ermöglicht der PWI eine präzise Anpassung der thermischen Profile, um die Qualität und Effizienz der Produktionsabläufe zu optimieren. Dieses Fachbuch richtet sich an Fachleute und Studierende, die ein vertieftes Verständnis für die statistischen Grundlagen und Anwendungen des PWI in der industriellen Fertigung erlangen möchten. Es bietet wertvolle Einblicke in die Methodik und die praktischen Implikationen der Anwendung von PWI in verschiedenen Fertigungsumgebungen.

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Marke:Betascript Publishing