Multi-scale modelling of III-nitrides, Fachbücher von David Holec

Das Buch "Multi-scale modelling of III-nitrides" bietet eine umfassende Analyse der Modellierung von III-Nitriden, die sowohl die kontinuierliche Theorie von Versetzungen als auch atomistische Ansätze umfasst. Es behandelt die kritische Dicke von dünnen epitaxialen Schichten und beleuchtet die elektronische Struktur von III-Nitridlegierungen mithilfe ab initio Methoden. Der erste Teil des Buches konzentriert sich auf die Anwendung allgemeiner Elastizitätsansätze auf wurtzitische Materialien, die Erweiterung von Modellen zur kritischen Dicke für heteroepitaxiale Systeme und die Entwicklung eines verbesserten geometrischen Modells zur Reduzierung der Dichte von Fadenversetzungen während des Wachstums dicker GaN-Filme. Im zweiten Teil wird die Dichtefunktionaltheorie verwendet, um die elektronische Struktur von III-N-Verbindungen zu untersuchen und diese mit experimentellen Daten zu korrelieren. Das Buch richtet sich an Fachleute und Studierende, die sich mit der Materialwissenschaft und der Halbleiterphysik beschäftigen.