Analog IC Reliability in Nanometer CMOS, Fachbücher von Georges Gielen, Elie Maricau

Das Buch "Analog IC Reliability in Nanometer CMOS" bietet eine umfassende Untersuchung der Alterung von Analogschaltungen in modernen nanometer CMOS-Technologien. Es behandelt die physikalischen Effekte, die zur Unzuverlässigkeit von Schaltungen führen, und bietet eine detaillierte Analyse der Alterungsmechanismen von Transistoren. Die Autoren, Elie Maricau und Georges Gielen, präsentieren kompakte Modelle für die Schaltungssimulation und vergleichen verschiedene Methoden zur effizienten Simulation der Schaltungszuverlässigkeit. Ein zentrales Thema des Buches ist die Untersuchung der Auswirkungen der Transistoralterung auf analoge Schaltungen sowie die Identifizierung von alterungsresistenten und alterungsimmunen Schaltungen. Darüber hinaus wird der Einfluss der Technologiefortschritte auf die Alterungseffekte diskutiert. Die vorgestellten Modelle und Techniken sind besonders wertvoll für Geräteingenieure, Schaltungsdesigner und die EDA-Community, um die Auswirkungen von Alterungseffekten auf nanometer CMOS-ICs besser zu verstehen und zu mindern.