Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics, Fachbücher von Hui Xie, Stéphane Régnier, Metin Sitti, Cagdas Onal

Das Buch "Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics" bietet eine umfassende Analyse der Fortschritte in der Nanorobotik, die auf der Technologie des Rasterkraftmikroskops (AFM) basieren. Seit den 1990er Jahren hat sich das AFM als effektives Werkzeug zur Manipulation von nanoskaligen Objekten wie Partikeln, Nanoröhren, Nanodrähten, Nanokristallen und DNA etabliert. Die Autoren, Hui Xie, Cagdas Onal, Stéphane Régnier und Metin Sitti, präsentieren in diesem Werk eine strukturierte und detaillierte Übersicht über die neuesten Entwicklungen in der Modellierung, Bildgebung, teleoperierten oder automatisierten Steuerung sowie der Mensch-Maschine-Interaktion im Kontext der AFM-basierten Nanorobotik. Das Buch ist sowohl als Nachschlagewerk als auch als Lehrbuch für Studierende und Forscher in den Bereichen Nanorobotik und nanoskalige Dynamik konzipiert. Es behandelt innovative Prinzipien der dreidimensionalen Manipulation und der parallelen Bildgebung und Manipulation, die für die Entwicklung moderner Nanoroboter von Bedeutung sind.