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Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, Fachbücher von Mark B. Ketchen, Manjul Bhushan

Das Fachbuch "Microelectronic Test Structures for CMOS Technology" bietet eine umfassende Einführung in die grundlegenden Kon... Mehr erfahren

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Produktdetails

Das Fachbuch "Microelectronic Test Structures for CMOS Technology" bietet eine umfassende Einführung in die grundlegenden Konzepte des Designs von Teststrukturen, die in Testfahrzeugen, Scribe-Linien und CMOS-Produkten integriert werden. Angesichts der steigenden Kosten und der Komplexität in der Entwicklung und Herstellung von CMOS-Technologien und -Produkten wird die Rolle dieser Teststrukturen immer wichtiger. Die Autoren, Manjul Bhushan und Mark Ketchen von IBM, legen besonderen Wert auf hochgeschwindigkeitscharakterisierende Techniken für digitale CMOS-Schaltungen und die Verbindung zwischen der Leistung von Schaltungen und den Eigenschaften von MOSFETs sowie anderen Schaltungselementen. Das Buch enthält detaillierte Beispiele, die auch auf andere mikroelektronische Technologien anwendbar sind. Ziel ist es, sowohl Studierenden als auch Fachleuten eine praktische Anleitung zur disziplinierten Gestaltung und Nutzung von Teststrukturen zu bieten, die klare Informationen über die Parameter und die Leistung der digitalen CMOS-Technologie liefern.

Informationen

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Marke:Springer