Advanced Test Methods for SRAMs, Fachbücher von Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Alberto Bosio, Arnaud Virazel, L...

Das Buch "Advanced Test Methods for SRAMs" bietet eine umfassende Analyse der Test- und Diagnosetechniken für SRAM, eine der am häufigsten verwendeten Speicherarten in modernen elektronischen Geräten. Angesichts der Herausforderungen, die nanoskalierte Technologien mit sich bringen, ist es entscheidend, geeignete Testmethoden zu entwickeln, um die Zuverlässigkeit und Leistung dieser Speicher zu gewährleisten. Das Werk beleuchtet die Grenzen klassischer Testmethoden, die sich hauptsächlich auf statische Fehler konzentrieren, und führt in die neuen dynamischen Fehlermodelle ein, die in den neuesten Very Deep Sub-Micron (VDSM) Technologien auftreten. Die im Buch präsentierten speziellen Testsequenzen sind darauf ausgelegt, diese dynamischen Fehler zu identifizieren und zu diagnostizieren, was es zu einem unverzichtbaren Leitfaden für Fachleute in der Elektronik- und Halbleiterindustrie macht.