Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2, Fachbücher von Marcia L. Lightbody, Samuel H. Cohen
160,49 €
Variante
Das Buch "Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2" ist eine umfassende Sammlung von Beiträgen, die während des zweiten Symposiums zu diesem Thema im Jahr 1994 präsentiert wurden. Die Veranstaltung fand im Natick Research, Development and Engineering Center in Massachusetts statt und diente als Plattform für Wissenschaftler, die sich mit der Atomkraftmikroskopie (AFM), der Rastertunnelmikroskopie (STM) und anderen Probenmikroskopien beschäftigen. Die Teilnehmer hatten die Möglichkeit, Ideen auszutauschen, zukünftige Kooperationen zu erkunden und sich über die neuesten Entwicklungen in der Mikroskopietechnologie zu informieren. Neben den Vorträgen und Posterpräsentationen gab es eine Ausstellung, die die fortschrittlichsten AFM/STM-Mikroskope sowie verwandte Hardware und Software präsentierte. Die Beiträge decken ein breites Spektrum an Themen ab und bieten wertvolle Einblicke in die Fortschritte und Herausforderungen in der Mikroskopieforschung.
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