Scanning field emission microscopy, Fachbücher von Aliaksandr Navitski

Das Buch "Scanning Field Emission Microscopy" von Aliaksandr Navitski bietet eine umfassende Analyse der Elektronenemission aus festen Phasen, insbesondere von Metallen und Halbleitern, unter dem Einfluss eines hohen elektrostatistischen Feldes. Es behandelt die theoretischen Grundlagen der Elektronenemission und die erforderlichen Messtechniken, die für das Verständnis und die Anwendung in der Forschung und Industrie von Bedeutung sind. Ein besonderes Augenmerk liegt auf dem gegenseitigen Abschirmeffekt, der für Anwendungen mit Kaltkathoden von grosser Relevanz ist. Darüber hinaus werden die elektrothermischen Eigenschaften von Kohlenstoffnanoröhren und metallischen Nanodrähten erörtert. Der experimentelle Teil des Buches konzentriert sich auf die Ergebnisse umfassender FE-Untersuchungen verschiedener Materialien, die für Kaltkathodenanwendungen geeignet sind, sowie auf die Ursachen parasitärer FE von Nb-Oberflächen und Photokathoden, die für Elektronenbeschleuniger wie den europäischen Röntgen-Freie-Elektronen-Laser (XFEL) erforderlich sind. Ein neu entwickeltes Scanning-Anode-FE-Mikroskop (SAFEM) wird ebenfalls detailliert beschrieben, das in dieser Arbeit entwickelt wurde und regelmässig zur Minimierung parasitärer FE von Photokathoden in der Elektronenkanone des XFEL eingesetzt wird.