

Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy, Fachbücher von Ignace Jarrige
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Galaxus
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Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy, Fachbücher von Ignace Jarrige
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Marke:Éditions Universitaires Européennes