Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis, Fachbücher von Cedric J. Powell, Theodore E. ...

Das Buch "Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis" bietet eine umfassende Analyse der Methoden zur Charakterisierung von Oberflächen. Es richtet sich sowohl an Einsteiger als auch an erfahrene Wissenschaftler und vermittelt detaillierte Informationen sowie praktische Ratschläge zu den relevanten Phänomenen bei der Untersuchung realer Proben. Die Autoren, Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey und Cedric J. Powell, beleuchten die Herausforderungen, die bei der Analyse von Proben auftreten können, und bieten wertvolle Einblicke in die Verzerrungen, die durch Messparameter, Instrumentierung und die Eigenschaften der Proben entstehen. Dieses Fachbuch ist eine wertvolle Ressource für alle, die präzise und fundierte Messungen in der Oberflächenanalyse anstreben.