On-Line Testing for VLSI, Fachbücher von Dhiraj K. Pradhan, Yervant Zorian, Michael Nicolaidis

Das Buch "On-Line Testing for VLSI" bietet eine umfassende Analyse der modernen Ansätze zur Durchführung von On-Line-Tests in der VLSI-Technologie. Es behandelt verschiedene Testfunktionen wie Fehlererkennung, Diagnose, Fehlerkorrektur und Reparatur, die gleichzeitig mit der regulären Funktion des Systems durchgeführt werden. Die Autoren, Michael Nicolaidis, Yervant Zorian und Dhiraj Pradhan, haben eine Sammlung von Artikeln zusammengestellt, die aus den neuesten IEEE International On-Line Testing Workshops stammen. Diese Beiträge sind in sechs Kapitel gegliedert und bieten einen tiefen Einblick in die Entwicklung von fehlerresistenten Systemen, die auch nach einem Fehler weiterhin korrekt arbeiten. Das Buch richtet sich an Fachleute und Forscher, die sich mit den Herausforderungen und Lösungen im Bereich des On-Line-Testens auseinandersetzen.