High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials, Fachbücher von Manfred Rühle, Frank Ernst

Das Buch "High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials" bietet eine umfassende Analyse der Charakterisierung von Materialien und Materialsystemen, die für die Materialwissenschaft von zentraler Bedeutung ist. Es wird erläutert, wie die Eigenschaften von Materialien stark von der Mikrostruktur ihrer Komponenten abhängen und dass diese Charakterisierung bis auf atomare Ebene erfolgen muss. Der Fokus liegt auf der Bestimmung der Position und der Natur einzelner Atome in kritischen Bereichen, die nahe an Defekten wie Versetzungen, Grenzflächen und Oberflächen liegen. Die Bedeutung fortschrittlicher Techniken der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) wird hervorgehoben, insbesondere im Bereich der Halbleitermaterialien, wo interne Grenzflächen zwischen Silizium und Siliziden identifiziert wurden. Das Buch reflektiert auch die Entwicklung und den Einfluss eines Prioritätsprogramms zur mikrostrukturellen Charakterisierung, das von Peter Haasen initiiert wurde und von 1985 bis 1997 aktiv war.