Wafer Testing, Fachbücher von Lambert M. Surhone, Miriam T. Timpledon, Susan F. Marseken
Das Buch "Wafer Testing" von Betascript Publishing bietet eine umfassende Einführung in den Prozess des Wafer-Testings, der e... Mehr erfahren
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Wafer Testing, Fachbücher von Lambert M. Surhone, Miriam T. Timpledon, Susan F. Marseken
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Produktdetails
Das Buch "Wafer Testing" von Betascript Publishing bietet eine umfassende Einführung in den Prozess des Wafer-Testings, der eine entscheidende Phase in der Herstellung von Halbleiterbauelementen darstellt. Es behandelt die verschiedenen Methoden und Techniken, die zur Überprüfung der Funktionalität integrierter Schaltkreise auf einem Wafer eingesetzt werden. Der Inhalt basiert hauptsächlich auf Artikeln aus Wikipedia und anderen freien Online-Quellen, was eine breite Perspektive auf das Thema ermöglicht. Die Leser erhalten Einblicke in die Funktionsweise von Testgeräten, insbesondere des Wafer Probers, und lernen die verschiedenen Begriffe kennen, die mit dem Wafer-Testprozess verbunden sind, wie Wafer Sort, Wafer Final Test und Circuit Probe. Dieses Fachbuch richtet sich an Studierende, Fachleute und alle, die ein tieferes Verständnis für die Halbleiterfertigung und die damit verbundenen Testverfahren erlangen möchten.
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Marke:Betascript Publishing