Semiconductor Memory Testing, Fachbücher von Anuj Gupta

Das Buch "Semiconductor Memory Testing" von Anuj Gupta bietet eine umfassende Analyse der Herausforderungen und Techniken im Bereich des Testens von eingebetteten SRAMs in modernen System-On-Chip-Architekturen. Angesichts der strengen Qualitätsanforderungen und der hohen Kosten für externe Tester wird die Notwendigkeit von On-Chip-Testmethoden, insbesondere der Memory Built-in Self Test (MBIST) Techniken, hervorgehoben. Der Autor erläutert detailliert die verschiedenen Fehlermodelle und Testanforderungen, die für die effektive Prüfung von SRAMs erforderlich sind. Zudem wird die Implementierung von Testalgorithmen innerhalb des MBIST-Engines behandelt, um subtile Defekte zu identifizieren. Ein weiterer wichtiger Aspekt des Buches ist die Diskussion über die Notwendigkeit, Algorithmen und Testmuster aufgrund von Erkenntnissen aus der Fehleranalyse und dem Silizium-Debug zu aktualisieren.